江阴高城墩遗址出土良渚文化玉器的无损分析研究

为判断江阴高城墩遗址出土良渚文化玉器的地质成因和产地，利用外束质子激发X荧光技术（PIXE）、X射线衍射（XRD）、激光拉曼光谱（LRS）等无损分析技术对出土玉器进行了化学成分、矿物学特征分析。实验结果显示，46件玉器中67．4％的样品主要矿物组成为透闪石，玉料的质量较好，可能来自同一种成矿类型的矿床。研究表明无损伤分析技术是古代玉器研究的有效手段。研究结果为探索良渚文化遗址出土玉器的玉料来源提供了科学证据。...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Wen wu bao hu yu kao gu ke xue = Sciences of conservation & archaeology 2010, Vol.22 (4), p.42-52
1. Verfasser:	顾冬红干福熹承焕生陆建芳左骏李青会
Format:	Artikel
Sprache:	chi
Schlagworte:	无损分析玉器良渚文化高城墩遗址
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