Avalanche photodiode with reduced sidewall defects
2 2 2 A photodetector circuit incorporates an avalanche photodiode structure having a contact layer forming an ohmic contact over an annular region with the annular guard ring. In the fabrication process, the starting substrate can either be the handle wafer of a p− silicon-on-insulator wafer, or a...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng |
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