Secondary ion emission from a GaAs single crystal upon bombardment with Bim+ cluster ions
Secondary-ion mass spectra and energy distributions upon bombarding a gallium arsenide single crystal using Bi m + ( m = 1–5) cluster ions with energies of 2–12 keV are investigated. The gallium cluster ion yield grew nonadditively with the number of atoms in the cluster projectiles. A quasi-thermal...
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Veröffentlicht in: | Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics 2016, Vol.80 (2), p.105-108 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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