Epitaxial growth of InN thin films by plasma-enhanced atomic layer deposition
In this study, we report on the growth of crystalline InN thin films by plasma-enhanced atomic layer deposition (PE-ALD). By systematically investigating the growth parameters, we determined the process window for crystalline InN films growth by PE-ALD. Under the optimal conditions, we compared Si (...
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Veröffentlicht in: | Journal of applied physics 2018-12, Vol.124 (24) |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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