Directly measuring the structural transition pathways of strain-engineered VO thin films

Epitaxial films of vanadium dioxide (VO 2 ) on rutile TiO 2 substrates provide a means of strain-engineering the transition pathways and stabilizing of the intermediate phases between monoclinic (insulating) M1 and rutile (metal) R end phases. In this work, we investigate structural behavior of epit...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Nanoscale 2020-09, Vol.12 (36), p.18857-18863
Hauptverfasser:	Evlyukhin, Egor, Howard, Sebastian A, Paik, Hanjong, Paez, Galo J, Gosztola, David J, Singh, Christopher N, Schlom, Darrell G, Lee, Wei-Cheng, Piper, Louis F. J
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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