Nitrogen purged TXRF for the quantification of silver and palladium

Total reflection X-ray fluorescence (TXRF) analysis is a powerful technique for simultaneous multi-element analysis. Benefits include limits of detection in the microgram per litre range, limited sample preparation for liquid samples and low operating costs. However, the determination of elements su...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of analytical atomic spectrometry 2012-10, Vol.27 (1), p.1799-182
Hauptverfasser:	Holtkamp, Michael, Wehe, Christoph A, Blaske, Franziska, Holtschulte, Catharina, Sperling, Michael, Karst, Uwe
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Argon Atmospheres Fluorescence Molybdenum Palladium Silver Temperature X-rays
Online-Zugang:	Volltext
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