Monitoring Charge Carrier Diffusion across a Perovskite Film with Transient Absorption Spectroscopy
We have developed a new noninvasive optical method for monitoring charge carrier diffusion and mobility in semiconductor thin films in the direction perpendicular to the surface which is most relevant for devices. The method is based on standard transient absorption measurements carried out in refle...
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Veröffentlicht in: | The journal of physical chemistry letters 2020-01, Vol.11 (2), p.445-450 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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