Materials analysis and focused ion beam nanofabrication of topological insulator Bi 2 Se 3

Focused ion beam milling allows manipulation of the shape and size of nanostructures to create geometries potentially useful for opto-electronics, thermoelectrics, and quantum computing. We focus on using the ion beam to control the thickness of Bi Se and to create nanowires from larger structures....

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Scientific reports 2017-10, Vol.7 (1), p.13466
Hauptverfasser:	Friedensen, Sarah, Mlack, Jerome T, Drndić, Marija
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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