A 2.5-V, 333-Mb/s/pin, 1-Gbit, double-data-rate synchronous DRAM

A double data rate (DDR) at 333 Mb/s/pin is achieved for a 2.5-V, 1-Gb synchronous DRAM in a 0.14-/spl mu/m CMOS process. The large density of integration and severe device fluctuation present challenges in dealing with the on-chip skews, packaging, and processing technology. Circuit techniques and...

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Veröffentlicht in:IEEE journal of solid-state circuits 1999-11, Vol.34 (11), p.1589-1599
Hauptverfasser: Yoon, Hongil, Cha, Gi-Won, Yoo, Changsik, Kim, Nam-Jong, Kim, Keum-Yong, Lee, Chang Ho, Lim, Kyu-Nam, Lee, Kyuchan, Jeon, Jun-Young, Jung, Tae Sung, Jeong, Hongsik, Chung, Tae-Young, Kim, Kinam, Cho, Soo In
Format: Artikel
Sprache:eng
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