Measurements and analysis of antireflection coatings reflectivity related to external cavity lasers
Facets of semiconductor optical amplifiers (SOA) designed for external cavity lasers must be coated with an antireflection (AR) film of high quality and extremely low reflectance. Therefore measurements of facet reflectance play a crucial role in the fabrication of such AR coating. The reflectance c...
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Veröffentlicht in: | Optics communications 2011, Vol.284 (1), p.373-375 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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