Nano-patterning of through-film conductivity in anisotropic amorphous carbon induced using conductive atomic force microscopy
Direct nanometer patterning of through-film electrical conductivity on carbon films is crucial in the development of carbon materials for nanotechnology. Typically, nanometer topographical surface modification can be created using scanning probe microscopy techniques producing surface artifacts whic...
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Veröffentlicht in: | Carbon (New York) 2011-07, Vol.49 (8), p.2679-2682 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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