Direct measurement of hole transport dynamics in DNA

Our understanding of oxidative damage to double helical DNA and the design of DNA-based devices for molecular electronics is crucially dependent upon elucidation of the mechanism and dynamics of electron and hole transport in DNA. Electrons and holes can migrate from the locus of formation to trap s...

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Veröffentlicht in:Nature (London) 2000-07, Vol.406 (6791), p.51-53
Hauptverfasser: Lewis, Frederick D, Liu, Xiaoyang, Liu, Jianqin, Miller, Scott E, Hayes, Ryan T, Wasielewski, Michael R
Format: Artikel
Sprache:eng
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