GeSn p-i-n photodetector for all telecommunication bands detection
Using a 820 nm-thick high-quality Ge0.97Sn0.03 alloy film grown on Si(001) by molecular beam epitaxy, GeSn p-i-n photodectectors have been fabricated. The detectors have relatively high responsivities, such as 0.52 A/W, 0.23 A/W, and 0.12 A/W at 1310 nm, 1540 nm, and 1640 nm, respectively, under a 1...
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Veröffentlicht in: | Optics express 2011-03, Vol.19 (7), p.6400-6405 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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