Measuring Curved Crystal Performance for a High-Resolution, Imaging X-Ray Spectrometer

This paper describes the design, crystal selection, and crystal testing for a vertical Johann spectrometer operating in the 13 keV range to measure ion Doppler broadening in inertial confinement plasmas. The spectrometer is designed to use thin, curved, mica crystals to achieve a resolving power of...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:X-Ray Optics and Instrumentation 2010, Vol.2010, p.1-10
Hauptverfasser: Haugh, Michael J., Stewart, Richard
Format: Artikel
Sprache:eng
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