Synthetic tips
SIR-Capabilities in scanning tunnelling and atomic force microscopy (STM and AFM) depend on probe-tip properties, but tip properties are at present poorly controlled; suitable tips have poor reproducibility at the atomic level. AFMs with tips characterized by a small (~ 1 N/m) vertical spring consta...
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Veröffentlicht in: | Nature (London) 1990-02, Vol.343 (6259), p.600-600 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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