Synthetic tips

SIR-Capabilities in scanning tunnelling and atomic force microscopy (STM and AFM) depend on probe-tip properties, but tip properties are at present poorly controlled; suitable tips have poor reproducibility at the atomic level. AFMs with tips characterized by a small (~ 1 N/m) vertical spring consta...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Nature (London) 1990-02, Vol.343 (6259), p.600-600
Hauptverfasser: DREXLER, K. ERIC, FOSTER, JOHN S
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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