Holistic characterization of complex transmittances generated by infrared sub-wavelength gratings
We present a characterization technique of wide-area subwavelength structures. The optical bench is based on lateral shearing interferometry, which allows an accurate complex transmittance (phase and amplitude) measurement. The experimental validation is made in the long-wavelength infrared domain;...
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Veröffentlicht in: | Optics express 2008-05, Vol.16 (10), p.7060-7070 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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