Intrinsic noise properties of atomic point contact displacement detectors

We measure the noise added by an atomic point contact operated as a displacement detector. With a microwave technique, we increase the measurement speed of atomic point contacts by a factor of 500. The measurement is then fast enough to detect the resonant motion of a nanomechanical beam at frequenc...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review letters 2007-03, Vol.98 (9), p.096804-096804, Article 096804
Hauptverfasser: Flowers-Jacobs, N E, Schmidt, D R, Lehnert, K W
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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