Application of Atomic Force Microscopy as a Nanotechnology Tool in Food Science

Atomic force microscopy (AFM) provides a method for detecting nanoscale structural information. First, this review explains the fundamentals of AFM, including principle, manipulation, and analysis. Applications of AFM are then reported in food science and technology research, including qualitative m...

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Veröffentlicht in:Journal of food science 2007-05, Vol.72 (4), p.R65-R75
Hauptverfasser: Yang, Hongshun, Wang, Yifen, Lai, Shaojuan, An, Hongjie, Li, Yunfei, Chen, Fusheng
Format: Artikel
Sprache:eng
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