Amplitude and frequency modulation torsional resonance mode atomic force microscopy of a mineral surface

Scanning probe imaging in a shear force mode allows for the characterization of in-plane surface properties. In a standard AFM, shear force imaging can be realized by the torsional resonance mode. In order to investigate the imaging conditions on mineral surfaces, a torsional resonance mode atomic f...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Ultramicroscopy 2009-02, Vol.109 (3), p.275-279
Hauptverfasser:	Yurtsever, Ayhan, Gigler, Alexander M., Stark, Robert W.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Atomic force microscope (AFM) Chlorite Clinochlore Frequency modulation Torsional resonance
Online-Zugang:	Volltext
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