EBSD: a powerful microstructure analysis technique in the field of solidification
Summary This paper presents a few examples of the application of electron back‐scatter diffraction (EBSD) to solidification problems. For directionally solidified Al–Zn samples, this technique could reveal the change in dendrite growth directions from to as the composition of zinc increases from 5 t...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Journal of microscopy (Oxford) 2009-01, Vol.233 (1), p.160-169 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!