EELS analysis of internal metal – oxide interfaces
The heterophase boundaries between precipitates such as spherical amorphous SiO particles inside a copper matrix as well as crystalline CuO precipitates inside a silver matrix and the surrounding metal matrix are examined with high spatial resolution using a scanning transmission electron microscope...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | International journal of materials research 2008-05, Vol.99 (5), p.496-501 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!