Sub‑5 nm Ultrathin In2O3 Transistors for High-Performance and Low-Power Electronic Applications
Ultrathin oxide semiconductors are promising candidates for back-end-of-line (BEOL) compatible transistors and monolithic three-dimensional integration. Experimentally, ultrathin indium oxide (In2O3) field-effect transistors (FETs) with thicknesses down to 0.4 nm exhibit an extremely high drain curr...
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Veröffentlicht in: | ACS applied materials & interfaces 2024-04, Vol.16 (18), p.23536-23543 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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