An exploratory study of the effects of the dielectric-barrier-discharge surface pre-treatment on the self-assembly processes of a (3-Aminopropyl) trimethoxysilane on glass substrates
X-ray photoelectron spectrometry (XPS), Fourier transform infrared spectrometry (FTIR), secondary-ion-mass spectrometry (SIMS) and contact angle measurement have been used in study of the enhancement effect of substrate pre-treatment by dielectric-barrier-discharge (DBD) for the self-assembly of a (...
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Veröffentlicht in: | Applied surface science 2007-06, Vol.253 (16), p.6932-6938 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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