Electrical properties of individual and small ensembles of InAs/InP nanostructures

We investigate electrical properties of InAs/InP semiconductor nanostructures by conductive atomic force microscopy (C‐AFM) and current measurements at low temperatures in processed devices. Different conductances and threshold voltages for current onset were observed for each type of nanostructure....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physica status solidi. A, Applications and materials science Applications and materials science, 2006-05, Vol.203 (6), p.1353-1358
Hauptverfasser: Vicaro, K. O., Gutiérrez, H. R., Bortoleto, J. R. R., Nieto, L., Zuben, A. A. G. von, Seabra, A. C., Schulz, P. A., Cotta, M. A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!