Ferroelectric (Bi,Dy)4Ti3O12 thin films deposited on Pt(111)/Ti/SiO2/Si and p-type Si(100) substrates
Bi3.4Dy0.6Ti3O12 (BDT) thin films have been successfully deposited on Pt(111)/Ti/SiO2/Si and p-type Si(100) substrates by a sol–gel spin coating process. The remanent polarization (2Pr) and coercive field (2Ec) values of the BDT thin film on Pt(111)/Ti/SiO2/Si substrate annealed at 700°C were 39μC/c...
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Veröffentlicht in: | Journal of crystal growth 2004-10, Vol.271 (1-2), p.90-98 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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