Ferroelectric (Bi,Dy)4Ti3O12 thin films deposited on Pt(111)/Ti/SiO2/Si and p-type Si(100) substrates

Bi3.4Dy0.6Ti3O12 (BDT) thin films have been successfully deposited on Pt(111)/Ti/SiO2/Si and p-type Si(100) substrates by a sol–gel spin coating process. The remanent polarization (2Pr) and coercive field (2Ec) values of the BDT thin film on Pt(111)/Ti/SiO2/Si substrate annealed at 700°C were 39μC/c...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of crystal growth 2004-10, Vol.271 (1-2), p.90-98
Hauptverfasser: Kim, Sang Su, Song, Jae-Sung, Kwon, Sik-Chol
Format: Artikel
Sprache:eng
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