Determining oxygen isotope profiles in oxides with Time-of-Flight SIMS

We describe the application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) to the determination, by depth profiling and imaging analysis, of 18O tracer diffusion profiles in oxides. Procedures for obtaining high quality profiles from raw SIMS data are given. It is demonstrated that the...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Solid state ionics 2005-05, Vol.176 (15-16), p.1465-1471
Hauptverfasser:	De Souza, R.A., Zehnpfenning, J., Martin, M., Maier, J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Oxygen diffusion SIMS Time-of-Flight (ToF)
Online-Zugang:	Volltext
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