Growth of Al2O3 thin films on NiAl(100) by gas-phase oxidation and electro-oxidation

The growth and structures of aluminum oxides on NiAl(100) have been investigated by RHEED (reflection high energy electron diffraction), complemented by LEED (low energy electron diffraction), AES (Auger electron spectroscopy) and STM (scanning tunneling microscopy). Crystalline 0-Al2O3 phase grows...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Surface science 2006-05, Vol.600 (9), p.1942-1951
Hauptverfasser: ZEI, M. S, LIN, C. S, WEN, W. H, CHIANG, C. I, LUO, M. F
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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