Lattice distortion around impurity atoms as dopants in CdTe
We have measured the lattice distortion around As (acceptor), Se (isovalent), and Br (donor) in CdTe with fluorescence detected X-ray absorption spectroscopy (XAFS). The experimental challenge lies in the compromise between a concentration high enough for X-ray absorption and low enough to avoid com...
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Veröffentlicht in: | Thin solid films 2005-06, Vol.480 (Complete), p.279-282 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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