Lattice distortion around impurity atoms as dopants in CdTe

We have measured the lattice distortion around As (acceptor), Se (isovalent), and Br (donor) in CdTe with fluorescence detected X-ray absorption spectroscopy (XAFS). The experimental challenge lies in the compromise between a concentration high enough for X-ray absorption and low enough to avoid com...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Thin solid films 2005-06, Vol.480 (Complete), p.279-282
Hauptverfasser: Mahnke, H.-E., Haas, H., Holub-Krappe, E., Koteski, V., Novakovic, N., Fochuk, P., Panchuk, O.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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