Scanning Electron Microscopy Observations of Fractal Pattern Formation in Al/Ge Bilayer Films

The fractal pattern formation on the free surface of annealed Al/amorphous-Ge bilayer film deposited on a SiO2 substrate (Al/Ge/SiO2) was investigated with scanning electron microscopy (SEM). When the Al/Ge/SiO2 bilayer film is annealed at lower temperatures than the crystallization temperature of a...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Materials science forum 2004-03, Vol.449-452, p.445-448
Hauptverfasser:	Masuo, Yoshihiko, Moritani, Tomokazu, Miura, Yuzo, Doi, Minoru, Takagi, Makoto, Imura, Toru
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!