Design and evaluation of ion-implanted CMOS structures
An IC chip intended for the integrated signal readout of PbS-Si heterojunction detectors has been designed using a p-well/ n-substrate CMOS structure, The chip contains integrated and discrete n-MOSFET readout circuits as well as test structures. The chip fabrication used ion implantation for all do...
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Veröffentlicht in: | IEEE transactions on electron devices 1980-03, Vol.27 (3), p.578-583 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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