Lattice parameters and thermal expansion of the T2-phase of the Nb–Si–B system investigated by high-temperature X-ray diffraction

The lattice parameters and thermal expansion coefficients (*aa and *ac) of the T2-phase of the Nb-Si-B system with different boron contents were determined from high temperature X-ray diffraction data (298-1473 K). Alloys with nominal compositions Nb62.5Si37.5, Nb64Si30B6 and Nb64Si14.4B21.6 (at.%)...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Intermetallics 2004-02, Vol.12 (2), p.181-188
Hauptverfasser: Rodrigues, Geovani, Nunes, Carlos Angelo, Suzuki, Paulo Atsushi, Coelho, Gilberto Carvalho
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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