Propagation characteristics of single and multilayer Ga:ZnO in the epsilon near zero region

We numerically investigated the propagation characteristics of Ga:ZnO (GZO) thin films embedded in a ZnWO background in the epsilon near zero (ENZ) region. We found that, for GZO layer thickness ranging between 2 - 100 nm (∼ 1/600 - 1/12 of ENZ wavelength), such structure supports a novel non-radiat...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Optics express 2023-03, Vol.31 (7), p.11598-11609
Hauptverfasser:	Dwivedi, Ranjeet, Toudert, Johann
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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