Silicon-on-insulator dynamic threshold ESD networks and active clamp circuitry

Active clamp circuits are essential to minimize electrical overshoot and undershoot and minimize reflected signals and achieve performance objectives and reliability requirements in high performance CMOS circuits. This paper discusses for the first time the electrostatic discharge (ESD) protection c...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of electrostatics 2002, Vol.54 (1), p.3-21
Hauptverfasser:	Voldman, S., Hui, D., Young, D., Williams, R., Dreps, D., Howard, J., Sherony, M., Assaderaghi, F., Shahidi, G.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Active clamp ESD Protection Silicon-on-Insulator
Online-Zugang:	Volltext
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