Magnetron sputter deposition of A-15 and BCC crystal structure tungsten thin films

The effect of processing parameters on the crystal structure and electrical resistivity of magnetron sputter deposited W thin films was investigated. Formation of body centered cubic (bcc) W was favored when the concentration of impurity oxygen atoms in the films was < 5 at.% while the formation...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of electronic materials 1995-08, Vol.24 (8), p.961-967
Hauptverfasser: O'KEEFE, M. J, GRANT, J. T, SOLOMON, J. S
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!