Magnetron sputter deposition of A-15 and BCC crystal structure tungsten thin films
The effect of processing parameters on the crystal structure and electrical resistivity of magnetron sputter deposited W thin films was investigated. Formation of body centered cubic (bcc) W was favored when the concentration of impurity oxygen atoms in the films was < 5 at.% while the formation...
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Veröffentlicht in: | Journal of electronic materials 1995-08, Vol.24 (8), p.961-967 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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