Wafer-level calibration of large-scale integrated optical phased arrays

We present the wafer-level characterization of a 256-channel optical phased array operating at 1550 nm, allowing the sequential testing of different OPA circuits without any packaging steps. Using this, we establish that due to random fabrication variations, nominally identical circuits must be indi...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Optics express 2022-09, Vol.30 (20), p.35246-35255
Hauptverfasser:	Guerber, Sylvain, Fowler, Daivid, Faugier-Tovar, Jonathan, Carim, Kim Abdoul, Delplanque, Baptiste, Szelag, Bertrand
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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