Mechanical and tribological properties of cBN films on silicon and tungsten carbide substrates
Cubic boron nitride (cBN) films with a thickness of more than 2 μm on silicon and up to 0.8 μm on tungsten carbide substrates were prepared by reactive rf sputtering, in an Ar/N 2 discharge, using an electrically conducting boron carbide (B 4C) target. The increase in cBN film thickness was reached...
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Veröffentlicht in: | Thin solid films 2001-11, Vol.398, p.142-149 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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