Measuring and Then Eliminating Twin Domains in SnSe Thin Films Using Fast Optical Metrology and Molecular Beam Epitaxy

van der Waals (vdW) layered chalcogenides have strongly direction-dependent (i.e., anisotropic) properties that make them interesting for photonic and optoelectronic applications. Orthorhombic tin selenide (α-SnSe) is a triaxial vdW material with strong optical anisotropy within layer planes, which...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ACS nano 2022-06, Vol.16 (6), p.9472-9478
Hauptverfasser:	Mortelmans, Wouter, Hilse, Maria, Song, Qian, Jo, Seong Soon, Ye, Kevin, Liu, Derrick, Samarth, Nitin, Jaramillo, Rafael
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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