Analysis of planar defects in Nb sub(2)O sub(5)- and Bi sub(2)O sub(3)-doped BaTiO sub(3) ceramics

The structure and chemistry of planar defects in Nb sub(2)O sub(5)- and Bi sub(2)O sub(3)-doped BaTiO sub(3) ceramics that exhibit `core-shell' microstructures have been examined using a combination of conventional transmission (CTEM) and high-resolution (HREM) and scanning transmission (STEM)...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of materials science 1998-12, Vol.33 (24), p.5759-5771
Hauptverfasser: McCoy, Michael A, Lee, William E, Grimes, Robin W, Keyse, Robert
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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