Surface analysis of emulsion adhesives by fast atom bombardment mass spectrometry and X-ray photoelectron spectroscopy

This paper reports an investigation by fast atom bombardment mass spectrometry ( fabms) and X-ray photoelectron spectroscopy ( xps) of the nature of surfaces of films cast from various emulsion adhesives against air and against polystyrene or polytetrafluoroethylene ( ptfe) surfaces. An objective wa...

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Veröffentlicht in:International journal of adhesion and adhesives 1992-10, Vol.12 (4), p.263-270
Hauptverfasser: Comyn, J., Blackley, D.C., Harding, L.M.
Format: Artikel
Sprache:eng
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