Oxidation studies of SiGe
We have studied the kinetics and mechanism of oxidation of SiGe alloys deposited epitaxially onto Si substrates by low-temperature chemical vapor deposition. Ge is shown to enhance oxidation rates by a factor of about 3 in the linear regime, and to be completely rejected from the oxide so that it pi...
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Veröffentlicht in: | J. Appl. Phys.; (United States) 1989-02, Vol.65 (4), p.1724-1728 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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