Spectroscopic ellipsometry studies of YBa sub(2)Cu sub(3)O sub(7- delta ) deposited on SrTiO sub(3)

The dielectric function epsilon = epsilon sub(1) - i epsilon sub(2) of the YBa sub(2)Cu sub(3)O sub(7- delta ) high-T sub(c) superconducting films grown on (100) SrTiO sub(3) (c-axis oriented) and (110) SrTiO sub(3) (ab-oriented) substrate was measured by spectroscopic polarization modulation ellips...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of applied physics 1991-01, Vol.69 (12), p.8272-8276
Hauptverfasser:	Sengupta, L C, Huang, D, Roughani, B, Aubel, J L, Sundaram, S, Chang, C L
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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