LEED measurements of one monolayer of iron epitaxially grown on Cu(111)

We report a LEED study of Cu(111) and one monolayer of iron epitaxially grown on Cu(111). A full dynamical analysis was performed using the renormalized forward scattering method. We studied the influence of the scattering potential employed on the quality of the LEED theoretical analysis. The analy...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Surface science 1988, Vol.195 (3), p.566-578
Hauptverfasser: Darici, Y., Marcano, J., Min, H., Montano, P.A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!