Gettering of carbon and oxygen in silicon processing
The control of carbon and oxygen is of great importance in today's silicon materials and device processing, and it will become a critical parameter in the immediate future for VLSI device processing. Although considerable technology and some understanding are available today in the control of o...
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Veröffentlicht in: | Journal of the Electrochemical Society 1985-01, Vol.132 (7), p.1721-1725 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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