Gettering of carbon and oxygen in silicon processing

The control of carbon and oxygen is of great importance in today's silicon materials and device processing, and it will become a critical parameter in the immediate future for VLSI device processing. Although considerable technology and some understanding are available today in the control of o...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 1985-01, Vol.132 (7), p.1721-1725
Hauptverfasser: BAILEY, W. E, BOWLING, R. A, BEAN, K. E
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!