Peak force visible microscopy

The optical responses of molecules and materials provide a basis for chemical measurement and imaging. The optical diffraction limit in conventional light microscopy is exceeded by mechanically probing optical absorption through the photothermal effect with atomic force microscopy (AFM). However, th...

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Veröffentlicht in:Soft matter 2020-09, Vol.16 (36), p.8372-8379
Hauptverfasser: Wang, Haomin, Wang, Le, Shang, Yuequn, Yazdanparast Tafti, Sajedehalsadat, Cao, Wenpeng, Ning, Zhijun, Zhang, X. Frank, Xu, Xiaoji G
Format: Artikel
Sprache:eng
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