Selective dry etching of tungsten for VLSI metallization

Recently, refractory metals such as tungsten have attracted considerable attention as materials suitable for high density, high speed VLSI interconnect structures. Producing submicron W structures requires an etching process with high anisotropy and selectivity, such as can be achieved in RF glow di...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 1986-10, Vol.133 (10), p.2113-2118
Hauptverfasser: BURBA, M. E, DEGENKOLB, E, HENCK, S, TABASKY, M, JUNGBLUTH, E. D, WILSON, R
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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