Resolution enhancement in an extended depth of field for volumetric two-photon microscopy
The resolution enhancement over the extended depth of field (DOF) in the volumetric two-photon microscopy (TPM) is demonstrated by utilizing multiple orders of Bessel beams. Here the conventional method of switching laser modes (SLAM) in 2D is introduced to 3D, denoted as the volumetric SLAM (V-SLAM...
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Veröffentlicht in: | Optics letters 2020-06, Vol.45 (11), p.3054-3057 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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