Resolution enhancement in an extended depth of field for volumetric two-photon microscopy

The resolution enhancement over the extended depth of field (DOF) in the volumetric two-photon microscopy (TPM) is demonstrated by utilizing multiple orders of Bessel beams. Here the conventional method of switching laser modes (SLAM) in 2D is introduced to 3D, denoted as the volumetric SLAM (V-SLAM...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Optics letters 2020-06, Vol.45 (11), p.3054-3057
Hauptverfasser: He, Hongsen, Kong, Cihang, Chan, Ka Yan, So, W. L., Fok, Hiu Ka, Ren, Yu-Xuan, Lai, Cora S. W., Tsia, Kevin K., Wong, Kenneth K. Y.
Format: Artikel
Sprache:eng
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