Effect of the Deposition Condition on Properties of a-Si: F: H Films

We prepared a-Si: F: H films from SiF 4 and H 2 mixture gas by three discharging methods (DC, CSDC, and RF). The fluorine concentrations for the DC, CSDC and RF films are 15 at.% 1.5 at.% and 0.5 at.%, respectively. Optical emission spectra from the discharging gas suggest that the kinetics of the c...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 1982-01, Vol.21 (S2), p.193-198
Hauptverfasser: Uchida, Yoshiyuki, Ichimura, Takeshige, Nabeta, Osamu, Takeda, Yukio, Haruki, Hiromu
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!