Surface analysis: x-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy, and secondary ion mass spectrometry

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Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Analytical chemistry (Washington) 1982-04, Vol.54 (5), p.293-322
Hauptverfasser:	Turner, Noel H, Colton, Richard J
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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