Surface analysis: x-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy, and secondary ion mass spectrometry

Surface analysis: x-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy, and secondary ion mass spectrometry

The recent literature is reviewed. 927 refs.

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Analytical chemistry (Washington) 1982-04, Vol.54 (5), p.293-322
Hauptverfasser: Turner, Noel H, Colton, Richard J
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:The recent literature is reviewed. 927 refs.
ISSN:0003-2700
1520-6882
DOI:10.1021/ac00242a027