Observations on crystalline transformation in amorphous Ge thin films
The crystalline transformation of amorphous Ge films as a function of film thickness and environment has been studied using electron diffraction, electron microscope and electron microprobe techniques. Crystallization heat treatments were carried out in an electron diffraction unit on two series of...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Thin solid films 1972-08, Vol.11 (2), p.415-422 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!